Details

Der kontrollierte Größenwahn

Über die Ambivalenz beim Entwerfen
1. Aufl.

von: Hilde Léon, Marc-Philip Reichwald, Peter-Karsten Schultz, Peter Härtling, Edgar Allan Poe, Heinrich v. Kleist, Peter Piller, Reichwald Schultz, Klaus Behnke, Stephan Berg, Friedrich Meschede, Martin Weller
19,99 €
Verlag:	Hatje Cantz Verlag GmbH
Format:	PDF
Veröffentl.:	11.03.2024
ISBN/EAN:	9783775757690
Sprache:	deutsch
Anzahl Seiten:	259

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Beschreibungen

Titelbeschreibung

Experimentierfreude und Disziplin, Neugier und Routine, Selbstüberschätzung und Selbstreflexion sind Grundlage und Triebfeder des kreativen Schaffens. Nicht der geniale Einfall oder bloßer Fleiß, sondern stetes Suchen, Finden und Erfinden im interdiszipli

Inhaltsverzeichnis

Front Cover
Impressum
Titelseite
Inhalt
MAGAZIN
PFLICHTLEKTÜRE
FESTLICHETAGENEUERMUSIK
DAS ÜBERDEHNTE JAHRHUNDERT
1. VORLESUNG DIE SPANNE ZWISCHEN FINDEN UND ERFINDEN
HALBE MEILE
ARCHITECTURAL GUERILLA
APPENDIX
NEXTLIEGEND
Back Cover